赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160ERSeries简介:
1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM:
搭载Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector,可获取高清晰,高倍率图像,可灵活应用在分析及工艺流程检中的缺陷检查。此外,通过特别的减震机构,可稳定且快速的分析不良产品。可稳定的实现2.5DTilt检测,也可以根据用户及各种Application选择不同Option。
2.X-raySimple&Easy2.5D:
1)Max可实现900x900mm的Tablesize,可检测大型PCB和LED。
2)通过采用双臂支撑的Z轴结构方式,可轻松解决震动引起的图像残影问题。
3)Detector倾斜角度最大可达70°,可通过Rotation轴轻松获取2.5D图像。
4)通过DetectorR轴结构的改善增加了检测区域及机构的稳定性。
x-ray检测设备
http://www.secengchina.com/
http://www.secengcn.com/Products-37416134.html
https://www.chem17.com/st560481/product_37416134.html
原文链接:http://www.jx1168.com/caigou/show-12304.html,转载和复制请保留此链接。
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