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纳米粒度及Zeta电位仪

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所在地: 广东 东莞市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2023-09-22 14:22
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公司基本资料信息
详细说明
 1、全光纤光路:利用全光纤光路替代分立光路,使参考光和散射光信号不再受灰尘和杂散光的干扰,显著提高了信噪比和抗干扰能力。

2、背散射光路:使用背散射光路减小散射光程,减弱多次散射光,进而可以测量高浓度样品的颗粒粒度。

3、大动态范围高速数字相关器:采用高速、低速通道搭配的光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实时获取动态范围大、基线稳定的相关函数。

4、数据筛选功能:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确性。

5、多角度数据反演:从多个不同的散射角度采集散射光强,可以获得更多的颗粒粒度信息,并将多个自相关函数结合到一个数据分析中,提高颗粒粒度分布的准确性。

6、温度趋势分析:按照设定的温度范围,自动进行粒度和Zeta电位测量,检测样品粒度或电位的温度趋势。

7、毛细管样品池:使用改进型平底U形毛细管样品池测量Zeta电位,由于样品池底部是水平的,从而使得电场强度比传统的毛细管样品池更加均匀,减少测量误差,进而提高Zeta电位的测量精度与重复性。

8、增强型相位分析光散射技术(PALS):通过测量光拍信号的相位变化来获得颗粒的Zeta电位,测量分辨率比电泳光散射法高两个数量级。

9、数据输出:提供数据输出功能,方便用户以自定义的图、表方式查看、对比测量结果

 

更多:纳米粒度及Zeta电位仪

http://www.opptronix.net/Products-37087965.html

https://www.chem17.com/st482621/erlist_2254219.html

原文链接:http://www.jx1168.com/chanpin/show-46502.html,转载和复制请保留此链接。
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